关于我们 | 影像测试卡| 联系我们

服务热线：
13310057372

热门搜索：

栏目导航

畸变测试卡: 分辨率测试卡; 综合测试卡; 灰阶测试卡; 畸变测试卡; 色彩还原测试卡; SFR测试卡; 肤色卡; 动态范围测试卡; 白平衡测试卡

重点案例

透射式动态范围测试卡

USAF分辨率测试卡35mm

USAF分辨率测试卡35mm

联系我们

服务热线 13310057372: 1269592676; 地址：广州市增城区低碳总部园智能制造中心B33栋6、7、8层

当前位置：主页>影像测试卡>畸变测试卡

混叠测试图走样畸变测试卡

型号：TE173
比例：4:3
类型：反射式

咨询热线：13310057372

浏览 : 374 发布日期 : 2018-03-23

TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。独立于类型的相机混叠效应会产生干扰的动机如位图和电视行结构。众所周知的百叶帘效果或纺织品条纹图案。

混叠测试图走样畸变测试卡

上一页 : 19/14-网格测试图摄像机畸变测试卡

下一页 : CCD重合测试卡

网站首页| 影像测试卡| 测试光源| 测试卡品牌| 色差仪| 新闻动态| 关于我们| 联系我们|

电话：13310057372
地址：广州市增城区低碳总部园智能制造中心B33栋6、7、8层
深圳市赛麦吉图像技术有限公司主要从事摄像头、镜头测试图卡和测试设备的技术研发销售等相关业务，欢迎来电咨询！
Copyright @ 深圳市赛麦吉图像技术有限公司 All Rights Reserved备案号：粤ICP备16084185号

: 点击咨询
咨询电话

13310057372